Язык:

Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа

Карташев, В. А.; Бурухина, Т. Ф.

Хранится в Русский книжный фонд (Моск. пр.) (2005-4/36139 )(обновляем...)

Заглавие:
Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа
Шифр хранения: 2005-4/36139
Описание: Карташев В. А., Бурухина Т. Ф. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина. - Москва : ИПМ РАН, 2004. - 20 с. : ил. ; 21 см.. - (Препринт / Ин-т прикл. математики им. М.В. Келдыша Рос. акад. наук ; N° 87). - Библиогр.: с. 20 (1 назв.)
Автор: Карташев, В. А.;
Бурухина, Т. Ф.
Заглавие серии: Препринт / Ин-т прикл. математики им. М.В. Келдыша Рос. акад. наук ; N° 87
Язык: Русский
ББК: В338.48
Примечания: Рез. на англ. яз.
Библиогр.: с. 20 (1 назв.)
Предметные рубрики: Микроскопы сканирующие туннельные -- Детали NLR12::RU\NLR\auth\661428198
Системный номер: NLR01 000835865

Ссылки

Назад к списку результатов