Язык:

Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники

Алексеев, В.Я.; Алексеев, Ю.Е.

Хранится в Русский книжный фонд (Моск.пр.) (70-6/8755 )(обновляем...)

Заглавие:
Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники
Шифр хранения: 70-6/8755
Описание: Алексеев В.Я., Алексеев Ю.Е. Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники / Ин-т точной механики и вычислит. техники АН СССР. - Москва : Б. и., 1969. - 41 с. : ил. ; 22 см.. - Библиогр.: с. 40
Автор: Алексеев, В.Я.;
Алексеев, Ю.Е.
Язык: Русский
Примечания: Библиогр.: с. 40
Находится в библиотеках: NLR
Системный номер: NLR01 007454516

Ссылки

Назад к списку результатов

Предыдущие Результат 2 Следующие На следующую страницу